<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd">
  <titleInfo>
    <title>Zastosowanie metody fotometrycznej do analizy struktury geometrycznej powierzchni</title>
    <subTitle>praca doktorska</subTitle>
  </titleInfo>
  <name type="personal">
    <namePart>Łukianowicz, Czesław</namePart>
    <role>
      <roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm>
    </role>
    <role>
      <roleTerm type="text">Autor</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>Karpiński, Tadeusz</namePart>
    <role>
      <roleTerm type="text">Promotor</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <name type="corporate">
    <namePart>Instytut Technologii Budowy Maszyn (Politechnika Wrocławska)</namePart>
  </name>
  <typeOfResource>text</typeOfResource>
  <genre authority="marc">theses</genre>
  <genre authority="">Rozprawa doktorska</genre>
  <originInfo>
    <place>
      <placeTerm type="code" authority="marccountry">pl</placeTerm>
    </place>
    <place>
      <placeTerm type="text">Wrocław</placeTerm>
    </place>
    <publisher>[s.n.]</publisher>
    <dateIssued>1976</dateIssued>
    <issuance>monographic</issuance>
  </originInfo>
  <language>
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">pol</languageTerm>
  </language>
  <physicalDescription>
    <form authority="marcform">print</form>
    <extent>124 strony : ilustracje ; 30 cm + załącznik : 72, [49] stron : rysunki.</extent>
  </physicalDescription>
  <abstract>Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.</abstract>
  <targetAudience authority="marctarget">specialized</targetAudience>
  <note type="statement of responsibility">Czesław Łukianowicz ; Politechnika Wrocławska. Instytut Budowy Maszyn.</note>
  <note>Druk jednostronny.</note>
  <note>Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976.</note>
  <note>Bibliografia na stronach 116-120.</note>
  <note>Załącznik do pracy doktorskiej zawiera : wyznaczanie tangensów półkątów aperturowych, obliczenia numeryczne równania, schematy urządzeń elektronicznych zastosowanych w konstrukcji stanowisk badawczych, obliczenia numeryczne parametrów rozkładu pochodnej profilu powierzchni.</note>
  <subject>
    <topic>Fotometria</topic>
  </subject>
  <subject>
    <topic>Inżynieria powierzchni</topic>
  </subject>
  <subject>
    <topic>Analiza numeryczna</topic>
  </subject>
  <subject>
    <topic>Struktura geometryczna powierzchni</topic>
  </subject>
  <classification authority="udc">621.791/.795 </classification>
  <classification authority="udc">535.24</classification>
  <classification authority="">370000</classification>
  <recordInfo>
    <recordContentSource authority="marcorg">KOSZ 005</recordContentSource>
    <recordCreationDate encoding="marc">140731</recordCreationDate>
    <recordChangeDate encoding="iso8601">20200616113400.0</recordChangeDate>
  </recordInfo>
</mods>
