TY  - SER
AU  - ŁUKIANOWICZ, Czesław.
TI  - Optyczne metody oceny mikrogeometrii powierzchni wykorzystujące kątowy rozkład światła rozproszonego
PY  - 1991///
KW  - Przyrządy pomiarowe
KW  - Inżynieria powierzchni
N1  - Dane z autopsji
N2  - Charakterystyka metod oceny mikrogeometrii powierzchni wykorzystujących pomiar kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego. Opis zasady pomiaru i przyrządów pomiarowych przeznaczonych do praktycznej realizacji tych metod
ER  -