TY  - SER
AU  - ŁUKIANOWICZ, Czesław.
TI  - Aparatura do oceny mikrogeometrii powierzchni na podstawie kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego
PY  - 1992///
KW  - Przyrządy pomiarowe
KW  - Inżynieria powierzchni
N1  - Dane z autopsji
N2  - Aparatura kontrolno-pomiarowa przeznaczona do oceny mikrogeometrii powierzchni na podstawie kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego. Podstawowe dane techniczne i przykłady zastosowania
ER  -