<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<record
    xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance"
    xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/MARC21/slim http://www.loc.gov/standards/marcxml/schema/MARC21slim.xsd"
    xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim">

  <leader>01496nab a2200241 i 4500</leader>
  <controlfield tag="001">BPP</controlfield>
  <controlfield tag="003">BPK</controlfield>
  <controlfield tag="005">20160122131859.0</controlfield>
  <controlfield tag="008">140731s2000    pl     f     |000 0 pol</controlfield>
  <datafield tag="040" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="c">BPK</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="080" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">621.791/.795</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="100" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">KARPI&#x143;SKI, Tadeusz.</subfield>
    <subfield code="d">1996 - 2001.</subfield>
    <subfield code="b">Politechnika Koszali&#x144;ska - Wydzia&#x142; Mechaniczny,</subfield>
    <subfield code="c">Katedra In&#x17C;ynierii Produkcji</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="245" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">Skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu powierzchni /</subfield>
    <subfield code="c">Tadeusz Karpi&#x144;ski, Czes&#x142;aw &#x141;ukianowicz, Tatiana &#x141;ukianowicz.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="260" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="c">2000.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="500" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">Dane z autopsji.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="520" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">W artykule przedstawiono skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu nier&#xF3;wno&#x15B;ci powierzchni. Zawiera ono profilometr, komputer, system akwizycji sygna&#x142;u pomiarowego oraz oprogramowanie umo&#x17C;liwiaj&#x105;ce analiz&#x119; i pomiary profilu powierzchni. Oprogramowanie napisane w &#x15B;rodowisku programowym Borland Delphi pozwala na prac&#x119; w systemie MS Windows. Stanowisko jest rozbudowane w celu analizy topografii powierzchni.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2="0">
    <subfield code="a">Struktura geometryczna powierzchni.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2="0">
    <subfield code="a">Powierzchnia - pomiary.</subfield>
    <subfield code="x">pomiary.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="700" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">&#x141;UKIANOWICZ, Czes&#x142;aw.</subfield>
    <subfield code="d">1996 - .</subfield>
    <subfield code="b">Politechnika Koszali&#x144;ska - Wydzia&#x142; Mechaniczny,</subfield>
    <subfield code="c">Katedra In&#x17C;ynierii Produkcji</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="700" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">&#x141;UKIANOWICZ, Tatiana.</subfield>
    <subfield code="d">1996 - .</subfield>
    <subfield code="b">Politechnika Koszali&#x144;ska - Wydzia&#x142; Mechaniczny,</subfield>
    <subfield code="c">Katedra In&#x17C;ynierii Produkcji</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="773" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="i">W :</subfield>
    <subfield code="t">Pomiary Automatyka Kontrola. -</subfield>
    <subfield code="g">2000, nr 5, s. 27-30</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="942" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="c">ART</subfield>
    <subfield code="2">UKD</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="999" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="c">2971</subfield>
    <subfield code="d">2971</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="952" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="0">0</subfield>
    <subfield code="1">0</subfield>
    <subfield code="4">0</subfield>
    <subfield code="7">0</subfield>
    <subfield code="a">BPK</subfield>
    <subfield code="b">BPK</subfield>
    <subfield code="o">0275</subfield>
    <subfield code="y">ART</subfield>
  </datafield>
</record>
