<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd">
  <titleInfo>
    <title>Skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu powierzchni</title>
  </titleInfo>
  <name type="personal">
    <namePart>KARPIŃSKI, Tadeusz.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji</namePart>
    <namePart type="date">1996 - 2001</namePart>
    <role>
      <roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>ŁUKIANOWICZ, Czesław.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji</namePart>
    <namePart type="date">1996 -</namePart>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>ŁUKIANOWICZ, Tatiana.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji</namePart>
    <namePart type="date">1996 -</namePart>
  </name>
  <typeOfResource>text</typeOfResource>
  <originInfo>
    <place>
      <placeTerm type="code" authority="marccountry">pl</placeTerm>
    </place>
    <dateIssued>2000</dateIssued>
    <issuance>continuing</issuance>
  </originInfo>
  <language>
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">pol</languageTerm>
  </language>
  <physicalDescription>
    <form authority="marcform">print</form>
  </physicalDescription>
  <abstract>W artykule przedstawiono skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu nierówności powierzchni. Zawiera ono profilometr, komputer, system akwizycji sygnału pomiarowego oraz oprogramowanie umożliwiające analizę i pomiary profilu powierzchni. Oprogramowanie napisane w środowisku programowym Borland Delphi pozwala na pracę w systemie MS Windows. Stanowisko jest rozbudowane w celu analizy topografii powierzchni.</abstract>
  <note type="statement of responsibility">Tadeusz Karpiński, Czesław Łukianowicz, Tatiana Łukianowicz.</note>
  <note>Dane z autopsji.</note>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Struktura geometryczna powierzchni</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Powierzchnia - pomiary</topic>
    <topic>pomiary</topic>
  </subject>
  <classification authority="udc">621.791/.795</classification>
  <relatedItem type="host" displayLabel="W :">
    <titleInfo>
      <title>Pomiary Automatyka Kontrola. -</title>
    </titleInfo>
    <part>
      <text>2000, nr 5, s. 27-30</text>
    </part>
  </relatedItem>
  <recordInfo>
    <recordContentSource authority="marcorg"/>
    <recordCreationDate encoding="marc">140731</recordCreationDate>
    <recordChangeDate encoding="iso8601">20160122131859.0</recordChangeDate>
    <recordIdentifier source="BPK">BPP</recordIdentifier>
  </recordInfo>
</mods>
