TY  - GEN
AU  - SUSZYŃSKI, Zbigniew.
ED  - Metrologia 2000
TI  - Metoda ilościowej oceny jakości lutowania struktur tranzystorów bipolarnych do ażuru
PY  - 2000///
KW  - Tranzystory
KW  - Lutowanie
KW  - Impedancja
KW  - Materiały konferencyjne
N1  - kopia dokumentu (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2000 roku Wydziału Elektroniki)
N2  - Zbadano związek pomiędzy zachowaniem się charakterystyk częstotliwościowych impedancji termicznej oraz siłą połączenia ultrakompresyjnego struktury półprzewodnikowej z ażurem. Dla danego typu struktury można na podstawie charakterystyki fazowej lub amplitudowej impedancji termicznej przewidzieć wielkość siły powodującej zniszczenie połączenia ultrakompresyjnego, a tym samym ocenić ilościowo jego jakość w sposób nieinwazyjny. Współczynnik korelacji pomiędzy wynikami badań termicznych oraz badań niszczących wyniósł ok. 0,8
ER  -