01484naa a2200217 i 4500001000400000003000400004005001700008008003900025040000800064041000800072044000800080100012600088245010600214260001000320500012400330520045300454655003000907700011900937773007101056711013901127BPPBPK20180201140939.0151105s2002    pl     f     |100 0 eng  cBPK  aeng  aPOL  aSUSZYŃSKI, Zbigniew.d1996 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,cKatedra Elektroniki Ciała Stałego  aDetermination of thermal parameters of multilayer structure /cZbigniew Suszyński, Piotr Majchrzak.  c2002.  asprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2002 roku Wydziału Elektroniki).  aIn this paper, photothermal method of testing, namely Thermal Wave Microscopy (TWM) and neural network (nnet) are applied to determine thermal parameters in multilayer structure. One-dimensional thermal modelling is used to train the nnet. Amplitude and phase contrasts are used to eliminate transmittance of measurement setup. The values of thermal parameters obtained from nnet are applied in thermal model and compared with experimental results. 0aMateriały konferencyjne.  aMAJCHRZAK, Piotr.d1998 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,cKatedra Inżynierii Komputerowej  iW :tInternational Conference on Signals and Electronic Systems. -  aInternational Conference on Signals and Electronic Systems ICSES 2002d(2002 ;cWrocław / Świeradów Zdrój, Polska).pICSES'2002