01666naa a2200205 i 4500 3477 KOSZ 005 20190610114321.0 140526s2010 pl f |000 0 pol BPK KOSZ 005/HR 621.791/.795 ŁUKIANOWICZ, Czesław. 1996 - . Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji Analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych / Czesław Łukianowicz, Rafał Pawlikowski. Dane z autopsji. W pracy przedstawiono wyniki topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych. Pomiary przeprowadzono za pomocą profilometru stykowego i mikroskopu interferencyjnego wykorzystującego korelację koherencji. Metoda ta charakteryzuje się wysoką dokładnością pomiaru topografii powierzchni, znacznym zakresem pomiarowym oraz krótkim czasem wykonania pomiaru. Z przeprowadzonych badań wynika, że może być ona przystosowana do oceny i analizy topografii wzorców kontrolnych przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych. Inżynieria powierzchni PAWLIKOWSKI, Rafał. 2010 - . Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Zakład Mechatroniki i Mechaniki Stosowanej W : Postępy w metrologii współrzędnościowej : praca zbiorowa / pod red. Jerzego Sładka i Władysława Jakubca. - Bielsko-Biała : Wydaw. Akademii Techniczno-Humanistycznej w Bielsku-Białej, 2010. - s. 187-194 ROZ UKD 3477 3477