Analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych
ŁUKIANOWICZ, Czesław.
Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji
1996 -
creator
PAWLIKOWSKI, Rafał.
Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Zakład Mechatroniki i Mechaniki Stosowanej
2010 -
text
pl
2010
monographic
pol
W pracy przedstawiono wyniki topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych. Pomiary przeprowadzono za pomocą profilometru stykowego i mikroskopu interferencyjnego wykorzystującego korelację koherencji. Metoda ta charakteryzuje się wysoką dokładnością pomiaru topografii powierzchni, znacznym zakresem pomiarowym oraz krótkim czasem wykonania pomiaru. Z przeprowadzonych badań wynika, że może być ona przystosowana do oceny i analizy topografii wzorców kontrolnych przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych.
specialized
Czesław Łukianowicz, Rafał Pawlikowski.
Dane z autopsji.
Inżynieria powierzchni
621.791/.795
Postępy w metrologii współrzędnościowej : praca zbiorowa / pod red. Jerzego Sładka i Władysława Jakubca. -
Bielsko-Biała : Wydaw. Akademii Techniczno-Humanistycznej w Bielsku-Białej, 2010. -
s. 187-194
140526
20190610114321.0
3477