TY - GEN AU - ŁUKIANOWICZ,Czesław, Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny AU - PAWLIKOWSKI,Rafał, Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej TI - Analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych KW - Inżynieria powierzchni N1 - Dane z autopsji N2 - W pracy przedstawiono wyniki topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych. Pomiary przeprowadzono za pomocą profilometru stykowego i mikroskopu interferencyjnego wykorzystującego korelację koherencji. Metoda ta charakteryzuje się wysoką dokładnością pomiaru topografii powierzchni, znacznym zakresem pomiarowym oraz krótkim czasem wykonania pomiaru. Z przeprowadzonych badań wynika, że może być ona przystosowana do oceny i analizy topografii wzorców kontrolnych przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych ER -