<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd">
  <titleInfo>
    <title>Ocena mikronierówności supergładkich powierzchni metodami światła rozproszonego</title>
  </titleInfo>
  <name type="personal">
    <namePart>KARPIŃSKI, Tadeusz.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji</namePart>
    <namePart type="date">1996 - 2001</namePart>
    <role>
      <roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>ŁUKIANOWICZ, Czesław.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji</namePart>
    <namePart type="date">1996 -</namePart>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>ŁUKIANOWICZ, Tatiana.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji</namePart>
    <namePart type="date">1996 -</namePart>
  </name>
  <name type="conference">
    <namePart>Ogólnopolska Konferencja Naukowo-Techniczna 1995.09.21-22 ; Rzeszów, Polska).</namePart>
  </name>
  <typeOfResource>text</typeOfResource>
  <genre authority="">Materiały konferencyjne.</genre>
  <originInfo>
    <place>
      <placeTerm type="code" authority="marccountry">pl</placeTerm>
    </place>
    <dateIssued>1995</dateIssued>
    <issuance>monographic</issuance>
  </originInfo>
  <language>
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">pol</languageTerm>
  </language>
  <physicalDescription>
    <form authority="marcform">print</form>
  </physicalDescription>
  <abstract>W pracy dokonano krótkiego przeglądu metod oceny mikronierówności powierzchni supergładkich. Przedstawiono metody oceny nierówności powierzchni wykorzystujące zjawisko rozproszenia światła przez powierzchnie chropowate. Opisano trzy podstawowe grupy metod rozproszenia do oceny mikronierówności powierzchni: polegające na pomiarze natężenia światła odbitego zwierciadlanie, wykorzystujące pomiar całkowitego natężenia światła rozproszonego oraz oparte na pomiarze kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego.</abstract>
  <targetAudience authority="marctarget">specialized</targetAudience>
  <note type="statement of responsibility">Tadeusz Karpiński, Czesław Łukianowicz, Tatiana Łukianowicz.</note>
  <note>Dane z autopsji.</note>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Powierzchnia</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Chropowatość</topic>
  </subject>
  <classification authority="udc">621.791/.795</classification>
  <relatedItem type="host" displayLabel="W :">
    <titleInfo>
      <title>Metrologia w technikach wytwarzania maszyn. Zbiór prac VI Konferencji Naukowo-Technicznej / pod red. Kazimierza E. Oczosia, Eugeniusza Ratajczaka i Jana Sieniawskiego. -</title>
    </titleInfo>
    <originInfo>
      <publisher>Rzeszów : Oficyna Wydaw. Politechniki Rzeszowskiej, 1995. -</publisher>
    </originInfo>
    <part>
      <text>s. 33-42</text>
    </part>
  </relatedItem>
  <recordInfo>
    <recordContentSource authority="marcorg"/>
    <recordCreationDate encoding="marc">140731</recordCreationDate>
    <recordChangeDate encoding="iso8601">20190606151629.0</recordChangeDate>
    <recordIdentifier source="BPK">BPP</recordIdentifier>
  </recordInfo>
</mods>
