01779naa a2200229 i 4500001000400000003000400004005001700008008003900025040000800064080001200072100014300084245014400227260001000371500002100381520057500402650002300977655003001000700014201030700013201172773016301304711008201467BPPBPK20191005132641.0151019s2004    pl     f     |100 0 pol  cBPK  a621.382  aJanke, WłodzimierzeAutord1996 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego  aPomiary szybkich przebiegów termicznych w elementach półprzewodnikowych /cWłodzimierz Janke, Jarosław Kraśniewski, Maciej Oleksy.  c2004.  aDane z autopsji.  aW pracy przedstawiono wielozadaniowy system pomiarowy do badań szybkich charakterystyk termicznych elementów półprzewodnikowych. Umożliwia on badanie różnych typów elementów przy różnych typach pobudzeń. Na podstawie tych pomiarów i dodatkowego oprogramowania możliwa jest identyfikacja parametrów przejściowych charakterystyk termicznych. Przedstawione zostały również przykładowe wyniki pomiarów oraz parametrów identyfikowanych krzywych dla różnych typów elementów półprzewodnikowych, w różnych warunkach pracy. 0aPółprzewodniki. 0aMateriały konferencyjne.  aKRAŚNIEWSKI, Jarosław.d1997 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego  aOLEKSY, Maciej.d2003 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego  iW :tTrzecia Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 2/2. -dKoszalin : Wyd. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004. -gs. 577-582  aKrajowa Konferencja Elektronikin(3 ;d2004 ;cKołobrzeg, Polska).pKKE'2004