TY  - GEN
AU  - KRAŚNIEWSKI, Jarosław.
ED  - Krajowa Konferencja Elektroniki
TI  - Rejestracja procesów przejściowych w elementach półprzewodnikowych w obecności oddziaływań fotoelektrycznych i elektro-termicznych
PY  - 2005///
KW  - Półprzewodniki
KW  - Lasery półprzewodnikowe
KW  - Symulacja
KW  - Materiały konferencyjne
N1  - Dane z autopsji
N2  - W pracy przedstawiono metodę rejestracji zmian napięcia na złączu B-E pod wpływem naświetlania struktury tranzystorowej laserem. Czasowe przebiegi tego napięcia są wynikiem złożonych oddziaływań fotoelektrycznych i elektrotermicznych. Opisano budowę i zasadę działania układu realizującego pomiar. Na podstawie eksperymentu i zarejestrowanych zmian napięcia powstał model zachodzących procesów wraz z symulacją w programie PSPICE. Następnie dokonano analizy porównawczej i zgodności jakościowej wyników eksperymentu z wynikami symulacji
ER  -