<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd">
  <titleInfo>
    <title>Surface geometrical property specification system basing on simple profilographometric measurements</title>
  </titleInfo>
  <titleInfo type="alternative">
    <title>System określania własności geometrycznych powierzchni na podstawie prostych pomiarów profilografometrycznych</title>
  </titleInfo>
  <name type="personal">
    <namePart>CINCIO, Robert.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej</namePart>
    <namePart type="date">2007 -</namePart>
    <role>
      <roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>KACALAK, Wojciech.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej</namePart>
    <namePart type="date">1996 -</namePart>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>MAKUCH, Sławomir Jacek.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej</namePart>
  </name>
  <typeOfResource>text</typeOfResource>
  <originInfo>
    <place>
      <placeTerm type="code" authority="marccountry">pl</placeTerm>
    </place>
    <dateIssued encoding="marc">2005</dateIssued>
    <issuance>monographic</issuance>
  </originInfo>
  <language>
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">eng</languageTerm>
  </language>
  <language objectPart="summary or subtitle">
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">pol</languageTerm>
  </language>
  <physicalDescription>
    <form authority="marcform">print</form>
  </physicalDescription>
  <abstract>W pracy jest przedstawiony system wykorzystujący metody sztucznej inteligencji do wnioskowania o topografii powierzchni na podstawie pojedynczego zarysu. W systemie tym zastosowano wielowarstwową sieć, na której wejście są podawane parametry pojedynczego zarysu chropowatości, a na jej wyjściu wartościami oczekiwanymi są średnie parametry stereometryczne całej powierzchni.</abstract>
  <targetAudience authority="marctarget">specialized</targetAudience>
  <note type="statement of responsibility">Robert Cincio, Wojciech Kacalak, Sławomir Makuch.</note>
  <note>Dane z autopsji.</note>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Powierzchnia - pomiary</topic>
    <topic>pomiary</topic>
  </subject>
  <classification authority="udc">621.791/.795</classification>
  <relatedItem type="host" displayLabel="W :">
    <titleInfo>
      <title>Advances in Manufacturing Science and Technology = Postępy Technologii Maszyn. -</title>
    </titleInfo>
    <part>
      <text>2005, Vol. 29, nr 1, s. 31-41</text>
    </part>
  </relatedItem>
  <recordInfo>
    <recordContentSource authority="marcorg"/>
    <recordCreationDate encoding="marc">140602</recordCreationDate>
    <recordChangeDate encoding="iso8601">20180403110439.0</recordChangeDate>
    <recordIdentifier source="KOSZ 005">3904</recordIdentifier>
  </recordInfo>
</mods>
