Elipsometria spektroskopowa kryształów ferroelektrycznych w nadfiolecie próżniowym Andriyevskyy, Bohdan Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Podstaw Elektroniki 2001 - creator Autor CIEPLUCH-TROJANEK, Wioleta. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Podstaw Elektroniki 1999 - Patryn, Aleksy Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Podstaw Elektroniki 1996 - Autor text pl 2009 continuing pol
print
 W artykule przedstawiono zasady przeprowadzenia analizy elipsometrycznej kryształów optycznych w zakresie nadfioletu próżniowego oraz wyniki oryginalnych badań wybranych kryształów ferroelektrycznych typu TGS (siarczan trójglicyny). Bohdan Andriyevsky, Aleksy Patryn, Wioleta Ciepluch-Trojanek. Dane z autopsji. Kryształy Elipsometria Promieniowanie nadfioletowe Promieniowanie synchrotronowe 548 Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. - 2009, nr 1, s. 76-86 151208 20191005121919.0 BPP