<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<record
    xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance"
    xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/MARC21/slim http://www.loc.gov/standards/marcxml/schema/MARC21slim.xsd"
    xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim">

  <leader>01440nab a2200241 i 4500</leader>
  <controlfield tag="001">BPP</controlfield>
  <controlfield tag="003">BPK</controlfield>
  <controlfield tag="005">20191005121919.0</controlfield>
  <controlfield tag="008">151208s2010    pl  |  |     |000 ||pol</controlfield>
  <datafield tag="040" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="c">BPK</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="080" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">543.42</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="100" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">Andriyevskyy, Bohdan</subfield>
    <subfield code="e">Autor</subfield>
    <subfield code="d">2001 - .</subfield>
    <subfield code="b">Politechnika Koszali&#x144;ska - Wydzia&#x142; Elektroniki i Informatyki,</subfield>
    <subfield code="c">Katedra Podstaw Elektroniki</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="245" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">Dyspersja przenikalno&#x15B;ci dielektrycznej kryszta&#x142;&#xF3;w SBN w zakresie spektralnym &#x15B;wiat&#x142;a widzialnego i nadfioletu /</subfield>
    <subfield code="c">Krzysztof Dorywalski, Bohdan Andriyevsky, Aleksy Patryn.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="260" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="c">2010.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="500" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">Dane z autopsji.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="520" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">W prezentowanej pracy przedstawiono wyniki bada&#x144; cz&#x119;&#x15B;ci rzeczywistej Epsylon1(E) i urojonej Epsylon2(E) funkcji dielektycznej Epsylon (E) kryszta&#x142;u SBN dla pi&#x119;ciu r&#xF3;&#x17C;nych warto&#x15B;ci wsp&#xF3;&#x142;czynnika x w zakresie 0,40 - 0,75. Wykorzystano p&#x142;ytki w postaci p&#x142;askor&#xF3;wnoleg&#x142;ych p&#x142;ytek o orientacji p&#x142;aszczyzny odbijaj&#x105;cej promieniowanie [100] i osi optycznej kryszta&#x142;&#xF3;w w kierunku [001].</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2="0">
    <subfield code="a">Kryszta&#x142;y.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">Spektroskopia dielektyczna.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2="0">
    <subfield code="a">Elipsometria.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="773" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="i">W :</subfield>
    <subfield code="t">Zeszyty Naukowe Wydzia&#x142;u Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszali&#x144;skiej. -</subfield>
    <subfield code="g">2010, nr 2 s. 65-75</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="700" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="a">Patryn, Aleksy</subfield>
    <subfield code="e">Autor</subfield>
    <subfield code="d">1996 - .</subfield>
    <subfield code="b">Politechnika Koszali&#x144;ska - Wydzia&#x142; Elektroniki i Informatyki,</subfield>
    <subfield code="c">Katedra Podstaw Elektroniki</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="942" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="c">ART</subfield>
    <subfield code="2">UKD</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="999" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="c">4638</subfield>
    <subfield code="d">4638</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="952" ind1=" " ind2=" ">
    <subfield code="0">0</subfield>
    <subfield code="1">0</subfield>
    <subfield code="4">0</subfield>
    <subfield code="7">0</subfield>
    <subfield code="a">BPK</subfield>
    <subfield code="b">BPK</subfield>
    <subfield code="o">01547</subfield>
    <subfield code="y">ART</subfield>
  </datafield>
</record>
