<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd">
  <titleInfo>
    <title>Dyspersja przenikalności dielektrycznej kryształów SBN w zakresie spektralnym światła widzialnego i nadfioletu</title>
  </titleInfo>
  <name type="personal">
    <namePart>Andriyevskyy, Bohdan</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Podstaw Elektroniki</namePart>
    <namePart type="date">2001 -</namePart>
    <role>
      <roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm>
    </role>
    <role>
      <roleTerm type="text">Autor</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>Patryn, Aleksy</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Podstaw Elektroniki</namePart>
    <namePart type="date">1996 -</namePart>
    <role>
      <roleTerm type="text">Autor</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <typeOfResource>text</typeOfResource>
  <originInfo>
    <place>
      <placeTerm type="code" authority="marccountry">pl</placeTerm>
    </place>
    <dateIssued>2010</dateIssued>
    <issuance>continuing</issuance>
  </originInfo>
  <language>
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">pol</languageTerm>
  </language>
  <physicalDescription>
    <form authority="marcform">print</form>
  </physicalDescription>
  <abstract>W prezentowanej pracy przedstawiono wyniki badań części rzeczywistej Epsylon1(E) i urojonej Epsylon2(E) funkcji dielektycznej Epsylon (E) kryształu SBN dla pięciu różnych wartości współczynnika x w zakresie 0,40 - 0,75. Wykorzystano płytki w postaci płaskorównoległych płytek o orientacji płaszczyzny odbijającej promieniowanie [100] i osi optycznej kryształów w kierunku [001].</abstract>
  <note type="statement of responsibility">Krzysztof Dorywalski, Bohdan Andriyevsky, Aleksy Patryn.</note>
  <note>Dane z autopsji.</note>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Kryształy</topic>
  </subject>
  <subject>
    <topic>Spektroskopia dielektyczna</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Elipsometria</topic>
  </subject>
  <classification authority="udc">543.42</classification>
  <relatedItem type="host" displayLabel="W :">
    <titleInfo>
      <title>Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. -</title>
    </titleInfo>
    <part>
      <text>2010, nr 2 s. 65-75</text>
    </part>
  </relatedItem>
  <recordInfo>
    <recordContentSource authority="marcorg"/>
    <recordCreationDate encoding="marc">151208</recordCreationDate>
    <recordChangeDate encoding="iso8601">20191005121919.0</recordChangeDate>
    <recordIdentifier source="BPK">BPP</recordIdentifier>
  </recordInfo>
</mods>
