TY  - SER
AU  - KAPŁONEK, Wojciech.
ED  - Konferencja "Doktoranci dla gospodarki"
TI  - Optoelektroniczna głowica pomiarowa przeznaczona do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego =: Optoelectronic measuring head for simultaneous evaluation of surface irregularities and geometrical dimension 
PY  - 2006///
KW  - Optoelektronika
KW  - Inżynieria powierzchni
KW  - Materiały konferencyjne
N1  - Dane z autopsji
N2  - W artykule przedstawiono krótkie podsumowanie prac prowadzonych przez autora nad stworzeniem optoelektronicznej głowicy pomiarowej przeznaczonej do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego. Krótko opisano wykorzystywane metody optyczne, przedstawiono ideę umożliwiającą jednoczesny pomiar dwoma metodami, pokazano projekt optoelektronicznej głowicy pomiarowej wykonany w środowisku CAD/CAM/CAE SolidWorks oraz omówiono kierunki dalszych badań
ER  -