Thermal diagnostic of power thyristor
SUSZYŃSKI, Zbigniew.
Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Elektroniki Ciała Stałego
1996 -
creator
ARSOBA, Robert.
Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki
1996 -
Katedra Inżynierii Komputerowej
MAJCHRZAK, Piotr.
Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki
1998 -
Katedra Inżynierii Komputerowej
Therminic Workshop 2001 ; Paryż, Francja).
text
conference publication
Materiały konferencyjne.
fr
2001
monographic
eng
In this paper a non-destructive photothermal method of testing, namely Thermal Wave Microscopy (TWM), is applied to assess the quality of adhesion between the silicon and molybdenum layers in power thyristor structures.
specialized
Zbigniew Suszyński, Robert Arsoba, Piotr Majchrzak.
sprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2002 roku Wydziału Elektroniki).
Tyrystory
621.382.3
International workshop on thermal investigations of ICs and systems : plus a special half-day on dynamic measurements : THERMINIC, Paris, France, 24-27 September 2001. -
Grenoble : TIMA, 2001. -
s. 180-184
151030
20180508085458.0
5