TY  - GEN
AU  - KAPŁONEK,Wojciech, Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny,
AU  - ŁUKIANOWICZ,Czesław, Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny
AU  - NADOLNY,Krzysztof, Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny
AU  - PAWLIKOWSKI,Rafał, Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej
TI  - Pomiary i analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych
KW  - Powierzchnia
KW  - Pomiary
N1  - Dane z autopsji
N2  - W pracy przedstawiono zagadnienia związane z analizą topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C (w odmianach C2 i C3) przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych. Wykazano iż wzorce tego typu mogą być sprawdzane za pomocą aparatury pomiarowej wykorzystującej nowoczesne metody optyczne - koherencyjną interferometrię korelacyjną oraz konfokalną laserową mikroskopię skaningową
ER  -