TY - GEN AU - KACALAK, Wojciech. AU - ŚMIAŁEK, Witold. ED - Konferencja Naukowo-Techniczna "Postępy w technice wytwarzania" TI - Wpływ parametrów polerowania ściernicami elastycznymi na topografię powierzchni płytek ceramicznych PY - 1978/// KW - Powierzchnia KW - Polerowanie KW - Płytki ceramiczne KW - Ściernica KW - Materiały konferencyjne N1 - Dane z autopsji N2 - W artykule wykazano, że stosowane obecnie parametry chropowatości powierzchni nie są dostatecznie czułe na zmiany w topografii wygładzanej powierzchni. Podano więc zbiór charakterystyk funkcyjnych oraz odpowiedni zbiór parametrów liczbowych, który może służyć do oceny własności stereometrycznych powierzchni. W dalszej części referatu omówiono wpływ procesu polerowania ściernicami elastycznymi na zmiany w topografii powierzchni płytek ceramicznych ER -