01580naa a2200229 i 4500001000400000003000900004005001700013008003900030040002100069080001400090100013700104245015400241500002100395520025000416650002700666650001700693655003000710700014200740700013200882773024301014711009301257559KOSZ 00520180220150127.0151019s2006    pl     f     |100 0 pol  cBPKdKOSZ 005/EG  a621.382.31 aJANKE, Włodzimierz.d1996 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki,cKatedra Systemów Elektronicznych10aWpływ temperatury otoczenia na charakterystyki termiczne tranzystorów mikrofalowych /cWłodzimierz Janke, Jarosław Kraśniewski, Maciej Oleksy.  aDane z autopsji.  aPrzedstawiono pomiary przejściowych przebiegów temperatury wnętrza tranzystorów mikrofalowych dla wewnętrznego pobudzenia mocą w różnych temperaturach otoczenia. Przedstawiono stanowisko badawcze i przykładowe wyniki pomiarów. 0aTemperatura - pomiary. 0aTranzystory. 0aMateriały konferencyjne.1 aKRAŚNIEWSKI, Jarosław.d1997 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki,cKatedra Systemów Elektronicznych1 aOLEKSY, Maciej.d2003 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki,cKatedra Systemów Elektronicznych0 iW :tPiąta Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 1/2 / [kom. red. Włodzimierz Janke - przewodn., Maciej Bączek, Stefan Łuczak]. -dKoszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006. -gs. 261-26622aKrajowa Konferencja Elektronikin(5 ;d2006 ;cDarłówko Wschodnie, Polska).pKKE'2006