01648naa a2200253 i 4500 559 KOSZ 005 20180220150127.0 151019s2006 pl f |100 0 pol BPK KOSZ 005/EG 621.382.3 JANKE, Włodzimierz. 1996 - . Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych Wpływ temperatury otoczenia na charakterystyki termiczne tranzystorów mikrofalowych / Włodzimierz Janke, Jarosław Kraśniewski, Maciej Oleksy. Dane z autopsji. Przedstawiono pomiary przejściowych przebiegów temperatury wnętrza tranzystorów mikrofalowych dla wewnętrznego pobudzenia mocą w różnych temperaturach otoczenia. Przedstawiono stanowisko badawcze i przykładowe wyniki pomiarów. Temperatura - pomiary. Tranzystory. Materiały konferencyjne. KRAŚNIEWSKI, Jarosław. 1997 - . Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych OLEKSY, Maciej. 2003 - . Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych W : Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 1/2 / [kom. red. Włodzimierz Janke - przewodn., Maciej Bączek, Stefan Łuczak]. - Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006. - s. 261-266 Krajowa Konferencja Elektroniki (5 ; 2006 ; Darłówko Wschodnie, Polska). KKE'2006 ROZ UKD 559 559 0 0 0 0 BPK BPK 79608 ROZ