TY  - GEN
AU  - ŁUKIANOWICZ, Tatiana.
AU  - WIŚNIEWSKI, Mirosław.
ED  - Konferencja Naukowo-Techniczna nt. Obróbka ścierna : Technologia
TI  - Optyczna metoda określania zawartości monokryształów węglika krzemu w ścierniwie
PY  - 1981///
KW  - Materiały ścierne
KW  - Węgliki
KW  - Materiały konferencyjne
N1  - Dane z autopsji
N2  - Przedstawiono optyczną metodę określania zawartości monokryształów SiC w ścierniwie. Metoda opiera się na wykorzystaniu związku między wartością sumarycznej energii światła odbitego od powierzchni ścierniwa a zawartością monokryształów w ścierniwie. W wyniku przeprowadzonych badań stwierdzono praktyczną przydatność metody
ER  -