TY  - GEN
AU  - ŁUKIANOWICZ, Czesław.
ED  - Metrologiczne problemy w technikach wytwarzania
TI  - Ocena mikronierówności powierzchni na podstawie kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego =: The surface microroughness assessment in base of decomposition light scattering intensity 
PY  - 1991///
KW  - Przyrządy pomiarowe
KW  - Powierzchnia - pomiary
KW  - pomiary
KW  - Materiały konferencyjne
N1  - Dane z autopsji
N2  - W pracy przedstawiono krótką charakterystykę metod oceny mikrogeometrii powierzchni opartych na pomiarze kątowego rozkładu światła rozproszonego. Opisano także opracowaną aparaturę przeznaczoną do oceny mikrogeometrii i przedstawiono wyniki badań uzyskane za pomocą tej aparatury
ER  -