TY  - GEN
AU  - KAPŁONEK,Wojciech, Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny,
AU  - NADOLNY,Krzysztof, Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny
AU  - TOMKOWSKI,Robert, Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny
TI  - High-accuracy surface topography measurements of abrasive tools using a 3D optical profiling system
KW  - Szlifowanie - narzędzia i maszyny
KW  - Pomiary
N1  - Dane z autopsji
N2  - W pracy zaproponowano wykorzystanie optycznego systemu profilometrycznego Talysurf CLI 2000 firmy Taylor-Hobson Ltd. do precyzyjnych pomiarów topografii powierzchni ściernych. Dokonano krótkiej charakterystyki urządzenia oraz opisano jeden z trybów pomiarów wykorzystujący zjawisko abberacji chromatycznej
ER  -