01328nab a2200241 i 4500 BPP BPK 20190610114326.0 140523s2012 pl f |000 0 pol BPK pol eng 621.791/.795 KAPŁONEK, Wojciech. 2008 - . Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji Pomiary topografii czynnej powierzchni foliowych taśm mikrościernych z wykorzystaniem konfokalnej laserowej mikroskopii skaningowej = Measurements of surface topography of microfinishing films with use of confocal laser scanning microscopy / Wojciech Kapłonek, Robert Tomkowski, Michal Zelenak. 2012. Dane z autopsji. W pracy przedstawiono zagadnienia związane z pomiarami topografii powierzchni narzędzi ściernych stosowanych w procesach mikro- i nanoobróbki. Ocenie poddano zestaw elastycznych foliowych taśm mikrościernych z ziarnem diamentowym. Przyrządy pomiarowe. Inżynieria powierzchni TOMKOWSKI, Robert. 2008 - . Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej W : Pomiary Automatyka Kontrola. - 2012, Vol. 58, nr 1, s. 37-39 ART UKD 6145 6145 0 0 0 0 BPK BPK 0275 ART