<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd">
  <titleInfo>
    <title>Pomiary topografii czynnej powierzchni foliowych taśm mikrościernych z wykorzystaniem konfokalnej laserowej mikroskopii skaningowej =</title>
    <subTitle>Measurements of surface topography of microfinishing films with use of confocal laser scanning microscopy</subTitle>
  </titleInfo>
  <name type="personal">
    <namePart>KAPŁONEK, Wojciech.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny,  Katedra Inżynierii Produkcji</namePart>
    <namePart type="date">2008 -</namePart>
    <role>
      <roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>TOMKOWSKI, Robert.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej</namePart>
    <namePart type="date">2008 -</namePart>
  </name>
  <typeOfResource>text</typeOfResource>
  <originInfo>
    <place>
      <placeTerm type="code" authority="marccountry">pl</placeTerm>
    </place>
    <dateIssued>2012</dateIssued>
    <issuance>continuing</issuance>
  </originInfo>
  <language>
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">pol</languageTerm>
  </language>
  <language objectPart="summary or subtitle">
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">eng</languageTerm>
  </language>
  <physicalDescription>
    <form authority="marcform">print</form>
  </physicalDescription>
  <abstract>W pracy przedstawiono zagadnienia związane z pomiarami topografii powierzchni narzędzi ściernych stosowanych w procesach mikro- i nanoobróbki. Ocenie poddano zestaw elastycznych foliowych taśm mikrościernych z ziarnem diamentowym.</abstract>
  <note type="statement of responsibility">Wojciech Kapłonek, Robert Tomkowski, Michal Zelenak.</note>
  <note>Dane z autopsji.</note>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Przyrządy pomiarowe</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Inżynieria powierzchni</topic>
  </subject>
  <classification authority="udc">621.791/.795</classification>
  <relatedItem type="host" displayLabel="W :">
    <titleInfo>
      <title>Pomiary Automatyka Kontrola. -</title>
    </titleInfo>
    <part>
      <text>2012, Vol. 58, nr 1, s. 37-39</text>
    </part>
  </relatedItem>
  <recordInfo>
    <recordContentSource authority="marcorg"/>
    <recordCreationDate encoding="marc">140523</recordCreationDate>
    <recordChangeDate encoding="iso8601">20190610114326.0</recordChangeDate>
    <recordIdentifier source="BPK">BPP</recordIdentifier>
  </recordInfo>
</mods>
