TY  - SER
AU  - ŁUKIANOWICZ, Czesław.
ED  - Międzyuczelniana Konferencja Metrologów
TI  - Reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej
PY  - 1987///
KW  - Powierzchnia - pomiary
KW  - pomiary
KW  - Materiały konferencyjne
N1  - Dane z autopsja\i
N2  - W artykule opisano reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej. Reflektometryczne metody pomiaru powierzchni opierają się na wykorzystaniu zjawiska kątowego rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate
ER  -