01580naa a2200241 i 4500 BPP BPK 20180220143042.0 160130s2012 pl f |100 0 pol BPK 543.42 WOJCIESZAK, Sylwester. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Koło Naukowe "Inżynier" Spectroscopy XPS as a tool of chemical composition measurement of surface layer = Spektroskopia XPS jako narzędzie do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej / Sylwester Wojcieszak, Łukasz Jasiukajtis. 2012. Dane z autopsji. W pracy przedstawiono znaną metodę wykorzystywaną do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej - spektroskopia XPS. Podano charakterystykę tej metody oraz przedstawiono przykład badania i analiza jego wyników. Spektroskopia. Materiały konferencyjne. W : Materiały IX Konferencji Studentów i Młodych Pracowników Nauki Wydziału Mechanicznego oraz V Ogólnopolskiej Konferencji Studenckich Kół Naukowych Uczelni Technicznych : XXXIV Tydzień Kultury Studenckiej / pod red. Marka Fligla, Leona Kukiełki. - Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2012. - s. 241-249 Ogólnopolska Konferencja Studenckich Kół Naukowych Uczelni Technicznych (5 ; 2012 ; Koszalin, Polska). Konferencja Studentów i Młodych Pracowników Nauki Wydziału Mechanicznego (9 ; 2012 ; Koszalin, Polska). ART UKD 6696 6696 0 0 0 0 BPK BPK 101727 ART