TY  - GEN
AU  - WOJCIESZAK, Sylwester.
ED  - Ogólnopolska Konferencja Studenckich Kół Naukowych Uczelni Technicznych
ED  - Konferencja Studentów i Młodych Pracowników Nauki Wydziału Mechanicznego
TI  - Spectroscopy XPS as a tool of chemical composition measurement of surface layer =: Spektroskopia XPS jako narzędzie do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej 
PY  - 2012///
KW  - Spektroskopia
KW  - Materiały konferencyjne
N1  - Dane z autopsji
N2  - W pracy przedstawiono znaną metodę wykorzystywaną do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej - spektroskopia XPS. Podano charakterystykę tej metody oraz przedstawiono przykład badania i analiza jego wyników
ER  -