01622naa a2200253 i 4500001000400000003000400004005001700008008003900025040000800064080001100072100010700083245021900190260001000409500002100419520023100440650001900671655003000690773035000720711011501070711011701185942001301302999001501315952003801330BPPBPK20180220143042.0160130s2012    pl     f     |100 0 pol  cBPK  a543.42  aWOJCIESZAK, Sylwester.bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny,cKoło Naukowe "Inżynier"  aSpectroscopy XPS as a tool of chemical composition measurement of surface layer =bSpektroskopia XPS jako narzędzie do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej /cSylwester Wojcieszak, Łukasz Jasiukajtis.  c2012.  aDane z autopsji.  aW pracy przedstawiono znaną metodę wykorzystywaną do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej - spektroskopia XPS. Podano charakterystykę tej metody oraz przedstawiono przykład badania i analiza jego wyników. 0aSpektroskopia. 0aMateriały konferencyjne.  iW :tMateriały IX Konferencji Studentów i Młodych Pracowników Nauki Wydziału Mechanicznego oraz V Ogólnopolskiej Konferencji Studenckich Kół Naukowych Uczelni Technicznych : XXXIV Tydzień Kultury Studenckiej / pod red. Marka Fligla, Leona Kukiełki. -dKoszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2012. -gs. 241-249  aOgólnopolska Konferencja Studenckich Kół Naukowych Uczelni Technicznychn(5 ;d2012 ;cKoszalin, Polska).  aKonferencja Studentów i Młodych Pracowników Nauki Wydziału Mechanicznegon(9 ;d2012 ;cKoszalin, Polska).  cART2UKD  c6696d6696  00104070aBPKbBPKo101727yART