01552naa a2200253 i 4500 BPP BPK 20180220154947.0 140813s1994 pl f |100 0 pol BPK pol eng POL 621.791/.795 ŁUKIANOWICZ, Czesław. 1973 - 1996. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji Optyczno-elektroniczny system kontrolno-pomiarowy do oceny mikrogeometrii powierzchni w ruchu = Opto-electronics system for inspection of moving rough surfaces / Czesław Łukianowicz. 1994. Dane z autopsji. Przedstawiono wyniki prac zmierzających do zbudowania systemu przeznaczonego do oceny mikrogeometrii powierzchni przedmiotów podczas ruchu. Zasada działania systemu opiera się na wykorzystaniu zjawiska rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate. Opisano stanowisko badawcze i przedstawiono różne warianty wykorzystania systemu kontrolno-pomiarowego do oceny powierzchni przedmiotów będących w ruchu. Materiały konferencyjne. Powierzchnia - pomiary. pomiary. W : Metrologia w procesach wytwarzania : V Krajowa Konferencja Naukowo-Techniczna : Forum Prac Badawczych : referaty. - Kraków : Instytut Obróbki Skrawaniem, 1994. - s. 143-148 Forum Prac Badawczych nt. Metrologia w procesach wytwarzania (5 ; 1994 ; Kraków, Polska). ART UKD 6849 6849 0 0 0 0 BPK BPK 102736 ART