<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd">
  <titleInfo>
    <title>Układ do rejestracji, pomiarów i analizy mikroskopowych obrazów powierzchni =</title>
    <subTitle>System for recording, measurements and analysing of microscopic images of surfaces</subTitle>
  </titleInfo>
  <name type="personal">
    <namePart>ŁUKIANOWICZ, Czesław.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji</namePart>
    <namePart type="date">1973 - 1996</namePart>
    <role>
      <roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>ŁUKIANOWICZ, Tatiana.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji</namePart>
    <namePart type="date">1973 - 1996</namePart>
  </name>
  <name type="conference">
    <namePart>Forum Prac Badawczych nt. Metrologia w procesach wytwarzania  1994 ; Kraków, Polska).</namePart>
  </name>
  <typeOfResource>text</typeOfResource>
  <genre authority="marc">conference publication</genre>
  <genre authority="">Materiały konferencyjne.</genre>
  <originInfo>
    <place>
      <placeTerm type="code" authority="marccountry">pl</placeTerm>
    </place>
    <dateIssued>1994</dateIssued>
    <issuance>monographic</issuance>
  </originInfo>
  <language>
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">pol</languageTerm>
  </language>
  <language objectPart="summary or subtitle">
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">eng</languageTerm>
  </language>
  <physicalDescription>
    <form authority="marcform">print</form>
  </physicalDescription>
  <abstract>Przedstawiono układ przeznaczony do akwizycji obrazów mikroskopowych powierzchni w pamięci mikrokomputera oraz do ich pomiarów i analizy. Układ zastosowano do obserwacji powierzchni za pomocą mikroskopów Neophot i Epityp. Akwizycji obrazu w pamięci komputera dokonywano za pomocą kamery TV połączonej z rejestratorem video i kartą frame grabber. Pokazano sposoby analizy obrazu za pomocą programu Image Pro Plus.</abstract>
  <targetAudience authority="marctarget">specialized</targetAudience>
  <note type="statement of responsibility">Czesław Łukianowicz, Tatiana Łukianowicz.</note>
  <note>Dane z autopsji.</note>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Powierzchnia - pomiary</topic>
    <topic>pomiary</topic>
  </subject>
  <classification authority="udc">621.791/.795</classification>
  <relatedItem type="host" displayLabel="W :">
    <titleInfo>
      <title>Metrologia w procesach wytwarzania : V Krajowa Konferencja Naukowo-Techniczna : Forum Prac Badawczych : referaty. -</title>
    </titleInfo>
    <originInfo>
      <publisher>Kraków : Instytut Obróbki Skrawaniem, 1994. -</publisher>
    </originInfo>
    <part>
      <text>s. 149-154</text>
    </part>
  </relatedItem>
  <recordInfo>
    <recordContentSource authority="marcorg"/>
    <recordCreationDate encoding="marc">140813</recordCreationDate>
    <recordChangeDate encoding="iso8601">20180220154947.0</recordChangeDate>
    <recordIdentifier source="BPK">BPP</recordIdentifier>
  </recordInfo>
</mods>
