00837nab a2200181 i 4500001000400000003000400004005001700008008003900025040000800064080001100072100009800083245009000181260001000271500002100281520019600302650004200498773011500540BPPBPK20160126105705.0160126s2012    pl  |  |     |000 ||pol  cBPK  a621.38  aKUBICKI, Maciej - doktorant.bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki  aPrzegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych /cMaciej Kubicki.  c2012.  aDane z autopsji.  aArtykuł przedstawia przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych zawartych w standardach przemysłowych oraz przedstawianych w literaturze alternatywnych metod pomiaru.  aElektronika - pomiary - urządzenia.  iW :tZeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. -g2012, nr 4, s. 67-82