TY  - SER
AU  - KUBICKI, Maciej - doktorant.
TI  - Przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych
PY  - 2012///
KW  - Elektronika - pomiary - urządzenia
N1  - Dane z autopsji
N2  - Artykuł przedstawia przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych zawartych w standardach przemysłowych oraz przedstawianych w literaturze alternatywnych metod pomiaru
ER  -