<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd">
  <titleInfo>
    <title>Metodyka oceny topografii folii ściernych ze szczególnym uwzględnieniem rozmieszczenia ziaren ściernych</title>
  </titleInfo>
  <titleInfo type="alternative">
    <title>The methodology of valuation topography grinding belts with special regard of the distribution abrasive grains</title>
  </titleInfo>
  <name type="personal">
    <namePart>KACALAK, Wojciech.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej</namePart>
    <namePart type="date">1996 -</namePart>
    <role>
      <roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <name type="personal">
    <namePart>TANDECKA, Katarzyna.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej</namePart>
    <namePart type="date">2011 -</namePart>
  </name>
  <typeOfResource>text</typeOfResource>
  <genre authority="marc">conference publication</genre>
  <genre authority="">Materiały konferencyjne.</genre>
  <originInfo>
    <place>
      <placeTerm type="code" authority="marccountry">pl</placeTerm>
    </place>
    <dateIssued encoding="marc">2010</dateIssued>
    <issuance>monographic</issuance>
  </originInfo>
  <language>
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">pol</languageTerm>
  </language>
  <language objectPart="summary or subtitle">
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">eng</languageTerm>
  </language>
  <physicalDescription>
    <form authority="marcform">print</form>
  </physicalDescription>
  <abstract>Przedmiotem badań są folie typu IMFF firmy #M o różnej wielkości nominalnej ziaren ściernych. Do analizy topografii powierzchni narzędzi wykorzystano mikroskop skaningowy oraz system pomiarowy Talysurf CCI 6000 firmy Taylor Hobson. Analizowano rozmieszczenie wierzchołków aktywnych ziaren ściernych za pomocą dekompozycji powierzchni na komórki Voronoi oraz zastosowano analizę motywów. Poddano analizie odległości między ziarnami, pola powierzchni otoczenia ziaren, wysokości wierzchołków ziaren ściernych i ich objętości.</abstract>
  <note type="statement of responsibility">Wojciech Kacalak, Katarzyna Tandecka.</note>
  <note>Dane z autopsji.</note>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Materiały ścierne</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Szlifowanie</topic>
  </subject>
  <classification authority="udc">621.92</classification>
  <relatedItem type="host" displayLabel="W :">
    <titleInfo>
      <title>Podstawy i technika obróbki ściernej / pod red. A. Gołąbczaka i B. Kruszyńskiego. -</title>
    </titleInfo>
    <originInfo>
      <publisher>Łódź : Politechnika Łódzka, 2010. -</publisher>
    </originInfo>
    <part>
      <text>s. 193-204</text>
    </part>
  </relatedItem>
  <recordInfo>
    <recordContentSource authority="marcorg"/>
    <recordCreationDate encoding="marc">141020</recordCreationDate>
    <recordChangeDate encoding="iso8601">20190606151716.0</recordChangeDate>
    <recordIdentifier source="KOSZ 005">7197</recordIdentifier>
  </recordInfo>
</mods>
