TY - GEN AU - KACALAK,Wojciech, Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny AU - TANDECKA, Katarzyna. TI - Metodyka oceny topografii folii ściernych ze szczególnym uwzględnieniem rozmieszczenia ziaren ściernych KW - Materiały ścierne KW - Szlifowanie KW - Materiały konferencyjne N1 - Dane z autopsji N2 - Przedmiotem badań są folie typu IMFF firmy #M o różnej wielkości nominalnej ziaren ściernych. Do analizy topografii powierzchni narzędzi wykorzystano mikroskop skaningowy oraz system pomiarowy Talysurf CCI 6000 firmy Taylor Hobson. Analizowano rozmieszczenie wierzchołków aktywnych ziaren ściernych za pomocą dekompozycji powierzchni na komórki Voronoi oraz zastosowano analizę motywów. Poddano analizie odległości między ziarnami, pola powierzchni otoczenia ziaren, wysokości wierzchołków ziaren ściernych i ich objętości ER -