TY  - GEN
AU  - Patryn,Aleksy, Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki
AU  - ILECZKO,Grzegorz - doktorant, Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki
ED  - Krajowa Konferencja Studentów i Młodych Pracowników Nauki "XXI wiek erą elektroniki i teleinformatyki"
TI  - Analiza widma fotonapięcia w krzemie przy krawędzi absorpcji
KW  - Optoelektronika
KW  - Światło
KW  - Absorpcja
KW  - Materiały konferencyjne
N1  - Dane z autopsji
N2  - W pracy przedstawiono analizę widma fotonapięcia powierzchniowego w krzemie w obszarze absorpcji pasmo-pasmo blisko jego krawędzi i wpływ rozbieżności pomiędzy widmem rzeczywistego i zastosowanego współczynnika absorpcji w modelu do wyznaczenia wartości długości drogi dyfuzji nośników ładunku L w półprzewodniku
ER  -