01360nab a22002057i 4500 8030 KOSZ 005 20180502084148.0 160308s2012 ||||| ||||0|| ||eng PBN-R:250730 KOSZ 005/md PBN-ID KOSZ 005/EG eng GILEWICZ, Adam. 1996 - . Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Zakład Nanotechnologii Próżniowo-Plazmowej An analysis of macroparticle-related defects in the CrCN and CrN coatings in dependence on the substrate bias voltage / Adam Gilewicz, Zbigniew Kukliński, Jerzy Ratajski, Jarosław Rochowicz, Bogdan Warcholiński. KUKLIŃSKI, Zbigniew. 1996 - . Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Centrum Technologii Próżniowo-Plazmowych RATAJSKI, Jerzy. 1996 - . Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Zakład Projektowania Materiałów i Procesów WARCHOLIŃSKI, Bogdan. 1996 - . Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Zakład Nanotechnologii Próżniowo-Plazmowej W : Vacuum. - 2012, nr 86(9), s. 1235-1239 0042-207X ART UKD 8030 8030