An analysis of macroparticle-related defects in the CrCN and CrN coatings in dependence on the substrate bias voltage
GILEWICZ, Adam.
Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Zakład Nanotechnologii Próżniowo-Plazmowej
1996 -
creator
KUKLIŃSKI, Zbigniew.
Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Centrum Technologii Próżniowo-Plazmowych
1996 -
RATAJSKI, Jerzy.
Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Zakład Projektowania Materiałów i Procesów
1996 -
WARCHOLIŃSKI, Bogdan.
Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, Zakład Nanotechnologii Próżniowo-Plazmowej
1996 -
text
2012
continuing
eng
Adam Gilewicz, Zbigniew Kukliński, Jerzy Ratajski, Jarosław Rochowicz, Bogdan Warcholiński.
Vacuum. -
0042-207X
2012, nr 86(9), s. 1235-1239
PBN-ID
160308
20180502084148.0
8030