TY  - SER
AU  - GILEWICZ,Adam, Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej
AU  - KUKLIŃSKI,Zbigniew, Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej
AU  - RATAJSKI,Jerzy, Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej
AU  - WARCHOLIŃSKI,Bogdan, Politechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej
TI  - An analysis of macroparticle-related defects in the CrCN and CrN coatings in dependence on the substrate bias voltage
ER  -