000			02369nam a22005057i 4500
003			KOSZ 005
005			20231003123700.0
008			180723s2014 pl a|||f m||| 00| 0 pol d
035			_a10650
040			_cKOSZ 005 _aKOSZ 005 _dKOSZ 005/EG
041			_apol _beng
046			_a2014
080			_a621.38
080			_a537.533
084			_a420000
100	1		_aDorywalski, Krzysztof. _eAutor
245	1	0	_aSystem spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych : _brozprawa doktorska / _cKrzysztof Dorywalski ; Politechnika Koszalińska. Wydział Elektroniki i Informatyki.
246	3	0	_aSpectroscopic ellipsometry system in application tothe properties studies of wide-bandgap optoelectronic materials
260			_aKoszalin : _b[s.n.], _c2014.
300			_a130 stron : _bIlustracje ; _c30 cm + _e1 dysk optyczny (CD ROM) ; 2 recenzje.
336			_2rdacontent _aTekst _btxt
337			_2rdamedia _aBez urządzenia pośredniczącego _bn
337			_2rdamedia _aKomputer _bc
338			_2rdacarrier _aWolumin _bnc
338			_2rdacarrier _aDysk komputerowy _bcd
502			_aRozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2014.
504			_aBibliografia na stronach 105-116.
506			_aDostępne online wszystkim użytkownikom bez ograniczeń, bez możliwości sporządzania kopii.
520			_aPraca poświęcona implementacji techniki spektroskopii elipsometrycznej w zakresie widmowym światła widzialnego, nadfioletu i nadfioletu próżniowego VIS-UV-VUV do badań własności wybranych materiałów dla optoelektroniki.
546			_aStreszczenie w języku polskim i angielskim.
653			_aElipsometria
653			_aSpektroskopia elipsometryczna
653			_aSystem elipsometryczny
653			_aPromieniowanie synchrotronowe
653			_aWłasności optyczne
653			_aMateriały szerokopasmowe
658			_aInżynieria i technika
655		4	_aRozprawa doktorska
700			_aPatryn, Aleksy _ePromotor
700	1		_aStapiński, Tomasz. _eRecenzja
700	1		_aJaroszewicz, Leszek R. _eRecenzja
710	2		_aWydział Elektroniki i Informatyki (Politechnika Koszalińska).
942			_cDOK _2UKD
999			_c10650 _d10650