000			01974naa a2200277 i 4500
001			BPP
003			BPK
005			20180508135457.0
008			151102s2001 pl f |100 0 eng
040			_cBPK
041			_aeng
044			_aPOL
100			_aSUSZYŃSKI, Zbigniew. _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, _cKatedra Elektroniki Ciała Stałego
245			_aExamination of collector current density distribution and detection of breakdown areas in power transistor / _cZbigniew Suszyński, Piotr Majchrzak, Robert Arsoba.
260			_c2001.
500			_asprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki).
520			_aIn this paper the IR mapping is used for the inspection of power transistor KT827B type. On the basis of amplitude and phase temperature images it is possible to observe such phenomena as concentrating of the variable component of collector current and areas of breakdown. The IR amplitude pictures give information about the distribution of dissipated power while the IR phase maps allow separating the electrical phenomena in time independently of its amplitude. The variable component of thermal fields gives more information and higher contrast then the constant one.
650		0	_aTemperatura.
650		0	_aTranzystory.
655		0	_aMateriały konferencyjne.
700			_aMAJCHRZAK, Piotr. _d1998 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, _cKatedra Inżynierii Komputerowej
700			_aARSOBA, Robert. _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, _cKatedra Inżynierii Komputerowej
711			_aInternational Conference IMAPS-Poland 2001 _n(25 ; _d2001 ; _cRzeszów / Polańczyk, Polska).
773	0		_iW : _t25 International Conference and Exhibition IMAPS–Poland 2001 : Rzeszów–Polańczyk 26–29 September 2001. - _dRzeszów, 2001. - _gs. 99-102
942			_cART _2UKD
999			_c180 _d180