000 02433nam a2200421 i 4500
003 KOSZ 005
005 20200616113400.0
008 140731s1976 pl a f m |000 0 pol d
035 _a2360
040 _cKOSZ 005
_aKOSZ 005
_dKOSZ 005/EG
041 _apol
046 _a1976
080 _a621.791/.795
080 _a535.24
084 _a370000
100 1 _aŁukianowicz, Czesław
_eAutor
245 1 0 _aZastosowanie metody fotometrycznej do analizy struktury geometrycznej powierzchni :
_bpraca doktorska /
_cCzesław Łukianowicz ; Politechnika Wrocławska. Instytut Budowy Maszyn.
260 _aWrocław :
_b[s.n.],
_c1976.
300 _a124 strony :
_bilustracje ;
_c30 cm +
_ezałącznik : 72, [49] stron : rysunki.
336 _2rdacontent
_aTekst
_btxt
337 _2rdamedia
_aBez urządzenia pośredniczącego
_bn
338 _2rdacarrier
_aWolumin
_bnc
500 _aDruk jednostronny.
502 _aRozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976.
504 _aBibliografia na stronach 116-120.
520 _aPraca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.
525 _aZałącznik do pracy doktorskiej zawiera : wyznaczanie tangensów półkątów aperturowych, obliczenia numeryczne równania, schematy urządzeń elektronicznych zastosowanych w konstrukcji stanowisk badawczych, obliczenia numeryczne parametrów rozkładu pochodnej profilu powierzchni.
650 4 _aFotometria.
650 4 _aInżynieria powierzchni
653 _aAnaliza numeryczna
653 _aStruktura geometryczna powierzchni
658 _aInżynieria i technika
655 4 _aRozprawa doktorska
700 1 _aKarpiński, Tadeusz
_ePromotor
710 2 _aInstytut Technologii Budowy Maszyn (Politechnika Wrocławska)
942 _cDOK
_2UKD
999 _c2360
_d2360