000			01496nab a2200241 i 4500
001			BPP
003			BPK
005			20160122131859.0
008			140731s2000 pl f |000 0 pol
040			_cBPK
080			_a621.791/.795
100			_aKARPIŃSKI, Tadeusz. _d1996 - 2001. _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Inżynierii Produkcji
245			_aSkomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu powierzchni / _cTadeusz Karpiński, Czesław Łukianowicz, Tatiana Łukianowicz.
260			_c2000.
500			_aDane z autopsji.
520			_aW artykule przedstawiono skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu nierówności powierzchni. Zawiera ono profilometr, komputer, system akwizycji sygnału pomiarowego oraz oprogramowanie umożliwiające analizę i pomiary profilu powierzchni. Oprogramowanie napisane w środowisku programowym Borland Delphi pozwala na pracę w systemie MS Windows. Stanowisko jest rozbudowane w celu analizy topografii powierzchni.
650		0	_aStruktura geometryczna powierzchni.
650		0	_aPowierzchnia - pomiary. _xpomiary.
700			_aŁUKIANOWICZ, Czesław. _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Inżynierii Produkcji
700			_aŁUKIANOWICZ, Tatiana. _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Inżynierii Produkcji
773			_iW : _tPomiary Automatyka Kontrola. - _g2000, nr 5, s. 27-30
942			_cART _2UKD
999			_c2971 _d2971