000			01766naa a2200277 i 4500
001			BPP
003			BPK
005			20180116151541.0
008			151102s2001 FRA f |100 0 eng
040			_cBPK
041			_aeng
044			_aFRA
080			_a621.382.3
100			_aSUSZYŃSKI, Zbigniew. _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, _cKatedra Elektroniki Ciała Stałego
245			_aInfrared investigation of power transistor / _cZ. Suszyński, P. Majchrzak, R. Arsoba.
260			_c2001.
500			_asprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki).
520			_aIn this paper the IR mapping is used for the inspection of power transistor KT827B type. Based on amplitude and phase temperature images it is possible to observe such phenomena as concentrating of the variable component of collector current and the areas of breakdown. The IR amplitude pictures give information about the distribution of dissipated power while the IR phase maps allow separating the electrical phenomena in time independently of its amplitude. The variable component of thermal fields gives more information and higher contrast then the constant one.
650		0	_aTyrystory.
655		0	_aMateriały konferencyjne.
700			_aMAJCHRZAK, Piotr. _d1998 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, _cKatedra Inżynierii Komputerowej
700			_aARSOBA, Robert. _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, _cKatedra Inżynierii Komputerowej
773			_iW : _tProceedings of the 7 Therminic Workshop. - _dParis, 2001. - _gs. 87-90
711			_aTherminic Workshop _n(7 ; _d2001 ; _cParyż, Francja).
942			_cART _2UKD
999			_c30 _d30