000			01541naa a2200253 i 4500
001			3318
003			KOSZ 005
005			20180306105405.0
008			140613s2010 pl f |000 0 eng d
040			_cKOSZ 005 _aKOSZ 005 _dKOSZ 005/ac
041			_aeng _bpol
044			_aPOL
080			_a536.7
100	1		_aZAWADA-TOMKIEWICZ, Anna. _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Inżynierii Produkcji - Zakład Monitorowania Procesów Technologicznych
245	1	0	_aMachined surface quality estimation based on wavelet packets parameters of the surface image / _cAnna Zawada-Tomkiewicz.
246	3	1	_aEstymacja jakości powierzchni obrobionej na bazie parametrów rozkładu pakietów falkowych obrazu tej powierzchni
500			_aDane z autopsji.
520			_aZjawisko zautomatyzowanego wytwarzania wymaga szybkich pomiarów chropowatości, jeszcze przed ostatecznym ukształtowaniem wyrobu. Do tej pory nie udało się opracować takiego układu, który spełniałby wymagania systemów sterowania produkcją. Jednym z możliwych do zastosowań przemysłowych układów inspekcji powierzchni jest system bazujący na obrazie tej powierzchni. W artykule dane jasności obrazu powierzchni, zebrane w kierunku prostopadłym do kierunkowości, modelowano przy zastosowaniu pakietów falkowych.
650		0	_aPowierzchnia.
650		0	_aPrzetwarzanie obrazów.
650		0	_aEntropia.
773	0		_iW : _tPomiary Automatyka Kontrola. - _g2010, nr 6, s. 606-609
942			_cART _2UKD
999			_c3318 _d3318