000 01103naa a2200229 i 4500
001 3332
003 KOSZ 005
005 20180426085256.0
008 140731s2010 pl f |000 0 pol
040 _cBPK
_dKOSZ 005/HR
041 _apol
_beng
080 _a621.791/.795
100 1 _aŁUKIANOWICZ, Czesław.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny,
_cKatedra Inżynierii Produkcji
245 1 0 _aZastosowanie skaningowej interferometrii w świetle białym do oceny topografii powierzchni /
_cCzesław Łukianowicz.
246 3 1 _aUse of white light scanning interferometry for assessment of surface topography
500 _aDane z autopsji.
520 _aW pracy sprawdzono możliwości stosowania skaningowej interferometrii w świetle białym do oceny topografii powierzchni wykonanych z różnych materiałów. W artykule opisano podstawy tej metody oraz wskazano na jej zalety i pewne ograniczenia.
650 0 _aPowierzchnia.
650 0 _aPrzyrządy pomiarowe.
773 0 _iW :
_tPomiary Automatyka Kontrola
_g2010, nr 9, s. 1055-1058
942 _cART
_2UKD
999 _c3332
_d3332