000			01666naa a2200205 i 4500
001			3477
003			KOSZ 005
005			20190610114321.0
008			140526s2010 pl f |000 0 pol
040			_cBPK _dKOSZ 005/HR
080			_a621.791/.795
100	1		_aŁUKIANOWICZ, Czesław. _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Inżynierii Produkcji
245	1	0	_aAnaliza topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych / _cCzesław Łukianowicz, Rafał Pawlikowski.
500			_aDane z autopsji.
520			_aW pracy przedstawiono wyniki topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych. Pomiary przeprowadzono za pomocą profilometru stykowego i mikroskopu interferencyjnego wykorzystującego korelację koherencji. Metoda ta charakteryzuje się wysoką dokładnością pomiaru topografii powierzchni, znacznym zakresem pomiarowym oraz krótkim czasem wykonania pomiaru. Z przeprowadzonych badań wynika, że może być ona przystosowana do oceny i analizy topografii wzorców kontrolnych przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych.
650		0	_aInżynieria powierzchni
700	1		_aPAWLIKOWSKI, Rafał. _d2010 - . _bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, _cZakład Mechatroniki i Mechaniki Stosowanej
773			_iW : _tPostępy w metrologii współrzędnościowej : praca zbiorowa / pod red. Jerzego Sładka i Władysława Jakubca. - _dBielsko-Biała : Wydaw. Akademii Techniczno-Humanistycznej w Bielsku-Białej, 2010. - _gs. 187-194
942			_cROZ _2UKD
999			_c3477 _d3477